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合金元素分析仪器的原理
浏览: 发布日期:2021-09-23
  中秋假期刚过,今天新源志勤的小编就给大家介绍关于合金元素分析仪器的原理,一起来看下吧。
 
  合金元素分析仪器的原理具体有:
 
  XRF全称是X射线荧光光谱分析(XRayFluorescence)。人们一般把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光,但是将用来照射的X射线称之为原级X射线。因此X射线荧光依旧是X射线,一台典型的X射线荧光仪器由激发源以及探测系统组成。X射线管产生入射X射线,激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,而且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或者波长特性。
 
  探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。随之,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称之为X射线荧光。运用X射线荧光原理,理论上是能够测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用当中,有效的元素测量范围为9号元素(F)至92号元素(U)。
 
  合金元素分析仪器的原理之特征X射线有:
 
  为什么可以用X射线来分析物质的成分呢?这些都归功于特征X射线。早在用电子轰击阳极靶而产生X射线的时候,人们就发现,有几个强度很高的X射线,它的能量并没有随加速电子用的高压变化,并且不同元素的靶材,它的特殊的X射线的能量也不一样,人们把它称之为特征X射线,它是每种元素所特有的。这就是的莫塞莱定律,它开辟了X射线分析在元素分析中的应用。每个元素的特征X射线的强度除和激发源的能量和强度有关外,还和这种元素在样品中的含量有关,按照各元素的特征X射线的强度,也能够获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。
合金元素分析仪器的原理(图1)

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